| 開催日 | 2010年9月28日(火) |
| 開催時間 | 午前10時より（日本時間） |
| 概要 |
4200型半導体パラメータアナライザに新たに加わった「超速I-Vモジュール」が拓く
アプリケーションとそれを実現した超速I-Vの概要と技術のポイントをやさしく解説します。
内容は、
1. ３つのコアの測定タイプ
2. 超速 I-V（トランジェント＆パルスI-V）とは？
3. 超速 I-V 測定の４つのセットアップ
4. 超速 I-V による試験アプリケーション
5. 超速 I-V 測定器の概要
(最後にライブでのQ&Aセッションがあります)
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| 関連製品 |
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4200型 半導体パラメータナライザ | |
4225-PMU型 超速I-Vモジュール |
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| 期待する参加者 |
測定対象物(DUT)が、
- 半導体材料・デバイス
- ナノテクおよびMEMS材料・デバイス
- 太陽電池
- その他、超速I-V評価が必要なもの
超速I-V試験に関して、
- 現在、課題を抱えている方
- これから行おうとしている方
- 一般的な知識を得たい方
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| 担当エンジニア |
Lee Stauffer (リー・スタウファー)
Senior Staff Technologist
(本セミナの開発者、今回のプレゼンテーションは日本人が代行）
大学では、電気工学と物理学（修士）を専攻し、ケースレー入社以前は衛星通信システム、半導体工場（装置と製品技術）でキャリアを重ねた。ケースレーに入社して22年になるが、これまでアプリケーションエンジニア、技術開発エンジニアそしてビジネス開発にかかわり現在は、半導体測定グループのシニアスタッフとして活躍している。
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| 言語 |
このセミナーは、日本語で行われます。ご質問に対しても専門家が口頭の日本語でお答えします。参加者の皆様は、プレゼンテーション中および質疑応答時間に、日本語で入力してご質問をお送りいただくことができます。
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| お知らせ |
ライブセミナー終了後、アンケートを送信いただきますと、iPod nano が当たる抽選に応募いただけます。
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