| 開催日 | 2010年05月26日 |
| 開催時間 | 午前10時より（日本時間） |
| 概要 |
半導体の基本測定であるC-V（容量-電圧）特性測定の基礎技術をやさしく解説します。
内容は、
1. CVメータの概要と選択（MOSキャパシタのCV測定）
2. CV試験、解析での代表的な制限事項
3. プローブステーションの接続と補正
4. 代表的なCV誤差とその補正
5. 興味深いアプリケーション例
（最後にライブでのQ&Aセッションがあります）
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| 関連製品 |
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4210-CVU CV測定器
(4200半導体特性評価システムに装着) | | 2636A型 2チャンネル1fA
システムソースメータ |
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| 期待する参加者 |
測定対象物(DUT)が、
- 半導体材料・デバイス
- ナノテク材料・デバイス
- 高抵抗の材料・部品
- 絶縁材料
- その他、C-V測定が必要なもの
C-V測定に関して、
- 現在、課題を抱えている方
- これから行おうとしている方
- もう一度振り返ってみたい方
- 一般的な知識を得たい方
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| 担当エンジニア |
Lee Stauffer (リー・スタウファー)
Senior Staff Technologist
(本セミナの開発者、今回のプレゼンテーションは日本人が代行）
大学では、電気工学と物理学（修士）を専攻し、ケースレー入社以前は衛星通信システム、半導体工場（装置と製品技術）でキャリアを重ねた。ケースレーに入社して22年になるが、これまでアプリケーションエンジニア、技術開発エンジニアそしてビジネス開発にかかわり現在は、半導体測定グループのシニアスタッフとして活躍している。
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| 言語 |
このセミナーは、日本語で行われます。ご質問に対しても専門家が口頭の日本語でお答えします。参加者の皆様は、プレゼンテーション中および質疑応答時間に、日本語で入力してご質問をお送りいただくことができます。
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| ご注意 |
ライブセミナー終了後、アンケートを送信いただきますと、iPod nano が当たる抽選に応募いただけます。
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