| 開催日 | 2010年01月28日 |
| 開催時間 | 午前10時より（日本時間） |
| 概要 |
100ナノアンペア以下の微少電流を正確に測定するには、幾つかの基本的な事柄に注意して実施する必要があります。本セミナではそれらのノウハウの基礎をお伝えします。
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| 関連製品 |
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2636A型
1fA システムソースメータ | | 6485/6487型
10fA ピコアンメータ |
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6514/6517B型
100aA エレクトロメータ | | 6430型
10aA リモートソースメータ | | 4200-SCS型
100aA 半導体特性評価システム |
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| 期待する参加者 |
測定対象物(DUT)が、
- 半導体材料・デバイス
- ナノテク材料・デバイス
- 高抵抗の材料・部品
- 絶縁材料
- その他、微少電流測定が必要なもの
微少電流測定に関して、
- 現在、課題を抱えている方
- これから行おうとしている方
- もう一度振り返ってみたい方
- 一般的な知識を得たい方
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| 担当エンジニア |
Jonathan L. Tucker（セミナ開発者）
シニアマーケター、科学研究計測担当
ジョン・タッカーは、ケースレーインスツルメンツ米国本社（オハイオ州クリーブランド市）の科学研究計測および研究・教育ビジネス担当のシニアマーケターです。1987年に入社し、テストエンジニア、アプリケーションエンジニア、アプリケーションマネージャ、製品マーケターなどの職務にあたってきました。現在は主に、ナノテクノロジのアプリケーションにおける電気特性測定・評価分野に対するビジネス戦略と製品開発に携わっております。
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| 言語 |
このセミナーは、日本語で行われます。ご質問に対しても専門家が口頭の日本語でお答えします。参加者の皆様は、プレゼンテーション中および質疑応答時間に、日本語で入力してご質問をお送りいただくことができます。
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| ご注意 |
ライブセミナー終了後、アンケートを送信いただきますと、iPod nano が当たる抽選に応募いただけます。
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